淺析質譜分析儀使用知識

　　質譜分析儀用于監測復雜過程的四極氣體分析系統。允許7天24小時連續監測,達到zui大的產額和產量,從而將成本降至zui低。足夠的小型和性能,可安裝在壓強很高的真空室內。HexBlock取樣系統的*性能。內置CDG,用于過程壓強監測和真空聯鎖。備有可選的校準參考源,用于調諧和氣體參。封閉的長壽命離子源可在阻擋大多數腐蝕性和反應性氣體的同時,檢測亞ppm量級的污染物。重量輕,易搬運。
　　
　　質譜分析儀以離子源、質量分析器和離子檢測器為核心。離子源是使試樣分子在高真空條件下離子化的裝置。電離后的分子因接受了過多的能量會進一步碎裂成較小質量的多種碎片離子和中性粒子。它們在加速電場作用下獲取具有相同能量的平均動能而進入質量分析器。質量分析器是將同時進入其中的不同質量的離子，按質荷比m/e大小分離的裝置。分離后的離子依次進入離子檢測器，采集放大離子信號，經計算機處理，繪制成質譜圖。離子源、質量分析器和離子檢測器都各有多種類型。質譜儀按應用范圍分為同位素質譜儀、無機質譜儀和有機質譜儀；按分辨本領分為高分辨、中分辨和低分辨質譜儀；按工作原理分為靜態儀器和動態儀器。
　　
　　質譜分析儀zui重要的應用是分離同位素并測定它們的原子質量及相對豐度。測定原子質量的精度超過化學測量方法，大約2/3以上的原子的質量是用質譜方法測定的。由于質量和能量的當量關系，由此可得到有關核結構與核結合能的知識。對于可通過礦石中提取的放射性衰變產物元素的分析測量，可確定礦石的地質年代。質譜方法還可用于有機化學分析，特別是微量雜質分析，測量分子的分子量，為確定化合物的分子式和分子結構提供可靠的依據。由于化合物有著像指紋一樣的*質譜，質譜儀在工業生產中也得到廣泛應用。
　　
　　質譜分析是一種測量離子荷質比（電荷-質量比）的分析方法，可用來分析同位素成分、有機物構造及元素成分等。*臺質譜儀是英國科學家弗朗西斯·阿斯頓于1919年制成的。阿斯頓用這臺裝置發現了多種元素同位素，研究了53個非放射性元素，發現了天然存在的287種核素中的212種，*次證明原子質量虧損。他為此榮獲1922年諾貝爾化學獎。
　　
　　質譜分析儀技術特點：帶EM的NDPP在10,000增益和1-秒停留時間下；質量數40對41amu的貢獻；零blast對2amu的貢獻；zui小可檢濃度,氪在空氣中在1-秒停留時間下；低發射下的線性,在0.1至2倍常規小孔壓強下；使用總壓強規管在低發射下的壓強調值；低發射下的總壓強精度；低發射下離子源zui大工作壓強（燈絲關斷閾值）；在封閉型離子源中2E-4乇,在四極場范圍中將產生約1E-5乇；zui小EM增益在zui大EM電壓下。